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CSPM5500係列研究級掃描探針顯微鏡

更新時間:2020/3/12 10:46:32
產品型號:CSPM5500
所屬分類:原子力顯微鏡
描述:CSPM5500係列研究級掃描探針顯微鏡
詳情介紹

CSPM5500係列研究級掃描探針顯微鏡

  三種型號: CSPM5500/CSPM5500A/CSPM5500LS 

 

 

    CSPM5500掃描探針顯微鏡工作模式簡介

    環境檢測及控製掃描探針顯微鏡顯微鏡

    磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡

    液相掃描探針顯微鏡

    精益求精、信心之選

    納米加工

 

國際主流的研究級專業儀器,集成原子力顯微鏡(AFM),橫向力顯微鏡(LFM),掃描隧道顯微鏡(STM)

 

分辨率: 原子力顯微鏡:橫向0.2nm,垂直0.03nm(以雲母晶體標定)

               掃描隧道顯微鏡:橫向0.1nm,垂直0.01nm(以石墨晶體標定)

 

高精度計量型儀器,采用NanoSensors提供的可溯源於國際計量權威機構PTB的標準樣品進行校準

 

一鍵式快速全程全自動進樣,無需手動預調,行程大於30mm,可容納超大樣品,樣品尺寸為:45mm×45mm×30mm

 

兩級可讀數樣品調節機構,可對樣品進行精確的檢測區域定位

 

一次掃描技術,圖像分辨高達4096×4096物理象素,微米級掃描即可得到納米級的實際信息

 

先進PID反饋算法實現快速高精度作用力控製,確保係統在高速掃描中穩定成像,實際掃描速度提升一個數量級

 

係統采用10M/100M快速以太網(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0與計算機連接,支持固件遠程升級

 

主控機箱前麵板具有16×4液晶顯示屏,係統當前狀態實時顯示

 

具備實時在線三維圖像顯示功能,便於用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣品信息

 

集成了多功能,多模式的新型原子力顯微鏡

 

係統功能

原子力顯微鏡(AFM):包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式

橫向力顯微鏡(LFM):具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學性能分析測量功能

掃描隧道顯微鏡(STM):包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等

曲線測量分析功能:力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等

 

選配功能

納米加工:包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、矢量掃描模式、DPN浸潤筆模式等

磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡

環境控製掃描探針顯微鏡

液相掃描探針顯微鏡

導電原子力顯微鏡

掃描探針聲學顯微鏡

掃描開爾文探針顯微鏡

掃描電容顯微鏡

壓電力顯微鏡

樣品溫度控製係統(控溫範圍:-20~150℃)

樣品加熱係統(控溫範圍:室溫~250℃)

 

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