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CSPM5500係列研究級掃描探針顯微鏡
三種型號： CSPM5500/CSPM5500A/CSPM5500LS
國際主流的研究級專業儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM)
分辨率： 原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.03nm（以雲母晶體標定）
掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標定）
高精度計量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源於國際計量權威機構PTB的標準樣品進行校準
一鍵式快速全程全自動進樣，無需手動預調，行程大於30mm，可容納超大樣品，樣品尺寸為：45mm×45mm×30mm
兩級可讀數樣品調節機構，可對樣品進行精確的檢測區域定位
一次掃描技術，圖像分辨高達4096×4096物理象素，微米級掃描即可得到納米級的實際信息
先進PID反饋算法實現快速高精度作用力控製，確保係統在高速掃描中穩定成像，實際掃描速度提升一個數量級
係統采用10M/100M快速以太網(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0與計算機連接，支持固件遠程升級
主控機箱前麵板具有16×4液晶顯示屏，係統當前狀態實時顯示
具備實時在線三維圖像顯示功能，便於用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣品信息
集成了多功能，多模式的新型原子力顯微鏡
係統功能
原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式
橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學性能分析測量功能
掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等
曲線測量分析功能：力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等
選配功能
納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、矢量掃描模式、DPN浸潤筆模式等
磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡
環境控製掃描探針顯微鏡
液相掃描探針顯微鏡
導電原子力顯微鏡
掃描探針聲學顯微鏡
掃描開爾文探針顯微鏡
掃描電容顯微鏡
壓電力顯微鏡
樣品溫度控製係統（控溫範圍：-20～150℃）
樣品加熱係統（控溫範圍：室溫～250℃）
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